(亞洲經濟通訊社記者張俊明報導)有鑑於光電、綠能、通訊、機械等高、新科技與新興產業發展快速，經濟部標準檢驗局特別配合慶祝2011年世界標準日，19日上午在該局舉辦一場「奈米薄膜檢測標準技術論壇」，邀請成功大學、台灣積體電路公司、台灣科技大學、台灣布魯克公司、科榮公司以及工研院量測中心等各領域專家，共同探討新型薄膜材料檢測標準技術與應用議題，也彰顯政府對新興產業標準化的重視。

標準檢驗局局長陳介山於會中表示，薄膜科技被視為引領各項產業發展的一項重要技術。不論是IC半導體的薄膜材料，或是影像顯示器FPD產業中的光電半導體材料、導電材料等；透過各類材料在奈米尺度下產生的新現象、新規律、新特性和新功能，擴大了這些材料的應用範圍。可以說薄膜技術讓各項產業的科技應用脫胎換骨，同時使得相對應的奈米量測技術及量測儀器開發需求日益擴大。

本次論壇與會的專家學者分別就：即時及臨場光學薄膜檢測、薄膜機械性質檢測技術發展及其標準化、薄膜加工之檢測方法、奈米薄膜檢測設備開發、薄膜機械性質檢測能力提升、光學薄膜標準及檢測需求等議題展開熱烈的討論，對我國奈米薄膜量測標準與檢測技術發展之方向與進一步應用提供了非常寶貴的建議；咸認在未來，奈米薄膜已無可避免地成為主宰產業革命與升級的重要利器之一；而產品是否具有高附加價值，檢測標準及技術的良窳無疑居於關鍵要素。

標檢局表示，在全球高科技競逐白熱化的時代，相關量測技術與標準的重要性也與日俱增。配合國家奈米科技及產業發展政策，建立具良好追溯性的奈米薄膜標準與計量技術，一直都是該局重要的發展目標之一。

今年更以奈米薄膜檢測科技發展為目標，開發「薄膜結構參數量測標準及參考物質量測技術」、「薄膜表面特徵量測標準技術」以及「奈米薄膜機電/化學特性量測標準技術」等技術，另規劃薄膜結構與特性量測標準。未來該局將強化與國際標準的接軌，並藉由與各界專家的交流，及評估籌組產、學、研策略聯盟，以求貼近產業的需求，共同完善國內奈米產業發展之環境。